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快速溫變試驗(yàn)箱六孔新版芯片研發(fā)可靠性設(shè)備

快速溫變試驗(yàn)箱六孔新版芯片研發(fā)可靠性設(shè)備

簡要描述:快速溫變試驗(yàn)箱六孔新版芯片研發(fā)可靠性設(shè)備
快速溫度變化試驗(yàn)箱適用于航空航天產(chǎn)品、信息電子儀器儀表、材料、電工、電子產(chǎn)品、各種電子元?dú)饧诟叩蜏鼗驖駸岘h(huán)境下檢驗(yàn)其各性能項(xiàng)指標(biāo)。

產(chǎn)品型號: TEB-225PF

所屬分類:225L快速溫變試驗(yàn)箱

更新時間:2024-07-03

廠商性質(zhì):生產(chǎn)廠家

詳情介紹

快速溫變試驗(yàn)箱六孔新版芯片研發(fā)可靠性設(shè)備

快速溫變試驗(yàn)(又線性/非線性快速溫變試驗(yàn)箱),是產(chǎn)品在設(shè)計(jì)強(qiáng)度極限下,運(yùn)用溫度加速技巧(在上、下限極值溫度內(nèi)進(jìn)行循環(huán)時,產(chǎn)品產(chǎn)生交替膨脹和收縮)改變外在環(huán)境應(yīng)力,使產(chǎn)品中產(chǎn)生熱應(yīng)力和應(yīng)變,透過加速應(yīng)力來使?jié)摯嬗诋a(chǎn)品的瑕疵浮現(xiàn)[潛在零件材料瑕疵、制程瑕疵、工藝瑕疵],以避免該產(chǎn)品于使用過程中,受到環(huán)境應(yīng)力的考驗(yàn)時而導(dǎo)致失效,造成不必要的損失,對于提高產(chǎn)品出貨良率與降低返修次數(shù)有顯著的效果.


溫度范圍:A:0~150、B:-20~150℃、C:-40~150℃、D-60~150℃、E:-70~150℃

濕度范圍:20~98%RH

溫度波動范圍:±0.3℃(-70~+100℃)±0.5℃(+100.1~+150℃)±2.5﹪rh

溫度均勻性:  TEE-150PF、225PF、408PF、600PF

           1、±1.0℃(-70~+100℃)

              ±1.5℃(+100.1~+150℃)

           TEE-800PF、1000PF

           2、±1.5℃(-70~+100℃)

              ±2.0℃(100~+150℃)

快速溫變試驗(yàn)箱六孔新版芯片研發(fā)可靠性設(shè)備

升溫時間:非線性升溫速率(5℃/10℃/15℃/20℃/25℃/30℃)

         線性升溫速率(5℃/10℃/15℃/20℃/25℃)

降溫時間:非線性升溫速率(5℃/10℃/15℃/20℃/25℃/30℃)

         線性升溫速率(5℃/10℃/15℃/20℃/25℃

冷凍系統(tǒng):

壓縮機(jī):法國泰康密閉式壓縮機(jī),兩元式制冷系統(tǒng)(風(fēng)冷配);比澤爾壓縮機(jī)(水冷配)。

3.2冷媒:環(huán)保冷媒R404A+R23

3.3冷凝器:水冷殼管式冷凝器+冷卻水塔(水冷配)

3.4蒸發(fā)器:鰭片式多段式自動負(fù)載容量調(diào)整

3.5其它附件:干燥劑,修理閥

3.6膨脹系統(tǒng):容量自動控制節(jié)流降壓之冷凍系統(tǒng)




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