小型高低溫沖擊試驗(yàn)箱冷熱沖擊測(cè)試爐

小型高低溫沖擊試驗(yàn)箱冷熱沖擊測(cè)試爐

小型高低溫沖擊試驗(yàn)箱冷熱交變沖擊實(shí)驗(yàn)箱是一種專(zhuān)門(mén)用于模擬極-端溫度環(huán)境條件的測(cè)試設(shè)備。它具有體積小、功能全、操作簡(jiǎn)便等特點(diǎn)，能夠滿足不同領(lǐng)域?qū)Ξa(chǎn)品性能測(cè)試的需求。該設(shè)備通過(guò)模擬高溫、低溫以及快速溫度變化等環(huán)境，對(duì)產(chǎn)品的物理、化學(xué)、機(jī)械和電氣性能進(jìn)行全面檢測(cè)，從而評(píng)估產(chǎn)品在極-端條件下的可靠性和耐久性。

參照標(biāo)準(zhǔn)

符合GB/T2423.1 低溫試驗(yàn)方法、GB/T2423.2高溫試驗(yàn)方法。GJB150.5-86溫度沖擊試驗(yàn)法 、GJB360A-96電子及電氣元件試驗(yàn)方法。
GJB 150.3高溫試驗(yàn)；GJB 150.4 低溫試驗(yàn)；
GB10588-2006 高溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件；
GB10589-2006 低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件；
GB/T10592高低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件；
QC/T413-2002、GB2423.22、ISO16750-4、IEC60068-2-14標(biāo)準(zhǔn)中所要求的試驗(yàn)

應(yīng)用領(lǐng)域**

小型高低溫沖擊試驗(yàn)箱冷熱交變沖擊實(shí)驗(yàn)箱廣泛應(yīng)用于電子、航空、汽車(chē)、科研等領(lǐng)域。在電子產(chǎn)品測(cè)試中，它可以模擬電子產(chǎn)品在不同溫度下的工作性能，評(píng)估產(chǎn)品的耐熱、耐寒和溫度變化等性能。在航空和汽車(chē)領(lǐng)域，該設(shè)備可用于測(cè)試飛行器儀器、汽車(chē)部件等在不同溫度環(huán)境下的性能和可靠性。此外，它還可以用于材料研究、醫(yī)療器械穩(wěn)定性測(cè)試等多個(gè)領(lǐng)域。

風(fēng)道系統(tǒng)

1.為保證較高的均勻度指標(biāo)，試驗(yàn)箱設(shè)有內(nèi)部循環(huán)送風(fēng)系統(tǒng)及風(fēng)道。工作室一端的風(fēng)道夾層內(nèi)，分布加熱器、制冷蒸發(fā)器、除蒸發(fā)器、風(fēng)葉等裝置。采用多臺(tái)風(fēng)機(jī)使箱內(nèi)空氣循環(huán)，當(dāng)風(fēng)機(jī)運(yùn)行時(shí)，將工作室中空氣從下部吸入風(fēng)道內(nèi)，經(jīng)加熱/制冷、從均勻地吹出，在工作室中與試品交換后的空氣再被吸入風(fēng)道內(nèi)，反復(fù)循環(huán)，從而達(dá)到溫度設(shè)定要求。

小型高低溫沖擊試驗(yàn)箱冷熱沖擊測(cè)試爐

型號(hào)：TSD-100F-3P

測(cè)試室尺寸：40*50*50CM

外箱尺寸：137*200*210CM

高溫室：+60→+180℃

升溫時(shí)間：+60℃→+180℃≤25分鐘

低溫室：-60℃→-10℃

降溫時(shí)間：+20℃→-60℃≤60分鐘

溫度沖擊范圍：（+60℃→+150℃）→（-40℃→-10℃）

溫度波動(dòng)度：±0.5℃

溫度偏差：±2.0℃

溫度回復(fù)時(shí)間：≤5min

皓天冷熱沖擊試驗(yàn)箱圖片展示：