智能瞬間轉(zhuǎn)換冷熱沖擊試驗(yàn)箱
簡要描述:智能瞬間轉(zhuǎn)換冷熱沖擊試驗(yàn)箱高低溫沖擊試驗(yàn)箱是航空、汽車、家電、科研等領(lǐng)域 的測試設(shè)備,考核和確定電工電子、汽車部件、材料等產(chǎn)品,在進(jìn)行高低溫試驗(yàn)的溫度環(huán)境沖擊變化后的參數(shù)及性能、使用的適應(yīng)性;該設(shè)備廣泛適用于學(xué)校、工廠、研發(fā)等單位.
產(chǎn)品型號(hào): TSD-50F-2P
所屬分類:冷熱沖擊試驗(yàn)箱
更新時(shí)間:2024-06-29
廠商性質(zhì):生產(chǎn)廠家
智能瞬間轉(zhuǎn)換冷熱沖擊試驗(yàn)箱
產(chǎn)品概述:
冷熱沖擊試驗(yàn)箱機(jī)(三箱靜止式)用來測試材料結(jié)構(gòu)或復(fù)合材料,在瞬間下經(jīng)*溫及極低溫的連續(xù)環(huán)境下所能忍受的程度,借以在 短時(shí)間內(nèi)試驗(yàn)其熱脹冷縮所引起的化學(xué)變化或物理傷害。適用的對象包括金屬,塑料,橡膠,電子等材料,可作為其產(chǎn)品改進(jìn)的依據(jù)或參考。
產(chǎn)品特點(diǎn):
設(shè)備分為:高溫區(qū)、低溫區(qū)、測試區(qū)三部份,采*之?dāng)酂峤Y(jié)構(gòu)及蓄熱、蓄冷效果,應(yīng)用冷熱風(fēng)路切換方式導(dǎo)入試品中,做試驗(yàn)時(shí)自動(dòng)打開高溫區(qū)與低溫區(qū)的風(fēng)閥從而達(dá)到高溫與低溫的沖擊試驗(yàn),待測品為不移動(dòng)之方式。
采用LCD液晶觸摸屏中英文操作控制系統(tǒng),操作簡易,可設(shè)定、顯示各種運(yùn)行數(shù)據(jù)。
高溫沖擊或低溫沖擊時(shí), 大時(shí)間可達(dá)999H, 大循環(huán)周期可達(dá)9999次。
系統(tǒng)可作自動(dòng)循環(huán)或手動(dòng)性沖擊并可設(shè)定二區(qū)或三區(qū)沖擊及冷沖、熱沖啟始。
冷卻采用二元冷凍系統(tǒng),降溫效果快速,冷卻方式為水冷式。
具有RS-232通信接口裝置,可與計(jì)算機(jī)聯(lián)機(jī)操控、編輯、記錄及信號(hào)點(diǎn)狀態(tài),使用便捷。
智能瞬間轉(zhuǎn)換冷熱沖擊試驗(yàn)箱
控制系統(tǒng)
主控制器采用進(jìn)中國臺(tái)灣TT-5166,雙回路高精度液晶顯示觸摸按鍵溫度控制器。該控制器采用液晶顯示觸摸屏,可顯示設(shè)定參數(shù)、試驗(yàn)曲線、運(yùn)行時(shí)間、加熱器工作狀態(tài),PID參數(shù)自整定功能??刂瞥绦虻木幹撇捎萌藱C(jī)對話方式,僅需設(shè)定溫度,就可實(shí)現(xiàn)制冷機(jī)自動(dòng)運(yùn)行功能??刂葡到y(tǒng)具備完善的檢測裝置能自動(dòng)進(jìn)行詳細(xì)的故障顯示。報(bào)警,配置485通訊接口及運(yùn)行軟件。設(shè)定精度:溫度:0.1℃ 時(shí)間:Is用戶程序容量:10×99段。運(yùn)行方式:程序運(yùn)行,恒定運(yùn)行。獨(dú)立超溫保護(hù)儀表。設(shè)備工作時(shí)間累計(jì)計(jì)時(shí)器。低溫區(qū)、高溫區(qū)轉(zhuǎn)換時(shí)間小于等于15秒。 溫度恢復(fù)時(shí)間小于等于5分鐘。
制冷系統(tǒng)
制冷系統(tǒng)及壓縮機(jī):為了保證試驗(yàn)箱降溫速率和zui低溫度的要求,本試驗(yàn)箱采用一套進(jìn)口壓縮機(jī)所組成的二元復(fù)疊式風(fēng)冷制冷系統(tǒng)。
壓縮機(jī)采用法國進(jìn)口全封閉式“泰康”牌壓縮機(jī)或德國進(jìn)口半封閉式“比澤爾”牌壓縮機(jī)。
冷卻系統(tǒng)
風(fēng)冷式或水冷式冷卻系統(tǒng)。
皓天設(shè)備:冷熱沖擊試驗(yàn)箱/高低溫沖擊試驗(yàn)箱/三箱式冷熱沖擊試驗(yàn)箱/二箱式冷熱沖擊試驗(yàn)箱/三箱式高低溫沖擊試驗(yàn)箱/二箱式高低溫沖擊試驗(yàn)箱
執(zhí)行標(biāo)準(zhǔn):
GB11158-2008 高溫試驗(yàn)條技術(shù)條件
GB10589-2008 低濁試驗(yàn)箱技術(shù)條件
GB10592-2008 高低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件(濕度交變)
GB/T2423.1-2008電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部份:試驗(yàn)方法 試驗(yàn)A:低溫IEC 6008-2-1:2007
GB/T2423.2-2008電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部份:試驗(yàn)方法 試驗(yàn)B:高溫IEC 6008-2-2:2007
GB/T2423.22-2002電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部份:試驗(yàn)方法 試驗(yàn)N:溫度變化IEC 60068-2-14:1984