高低測試箱環(huán)境可靠性高溫、低溫測試方法具體分析

高低測試箱環(huán)境可靠性高溫、低溫測試方法具體分析

環(huán)境可靠性高溫試驗:考核試驗樣品在高溫條件下的貯存或使用的適應(yīng)性。高低溫測試箱

*試驗方法:

*溫度突變和溫度漸變;

*區(qū)分散熱樣品和非散熱樣品:

*散熱樣品試驗方法:Bd溫度漸變;

*非散熱樣品試驗方法:日b溫度漸變;

*帶電設(shè)備試驗方法:Be溫度漸變。

*沒有特別說明加負載的試驗樣品，試驗采用高溫試驗方法Bb溫度漸變;

*中間檢測:一般不允許在測試過程中把樣品拿出試驗箱外進行功能測試。功能測試應(yīng)讓樣品保持在試驗箱里。

*恢復(fù):zui少一個小時，zui長不超過兩個小時。

*所有的功能測試必須在兩個小時內(nèi)完成。

*參考標準:IEC60068-2-2; GB/T 2423.2

環(huán)境可靠性低溫試驗

*低溫試驗:考核試驗樣品在低溫條件下的貯存或使用的適應(yīng)性。

*試驗方法:

*溫度突變和溫度漸變;

*區(qū)分非散熱樣品和散熱樣品:試驗樣品溫度達到穩(wěn)定后，在自由空氣條件(即沒有強迫空氣循環(huán))下溫量時，樣品表面zui熱的點溫度高于周圍大氣溫度5K以上的，認為是散熱樣品。

*非散熱樣品試驗方法:Ab溫度漸變;

*散熱樣品試驗方法:Ad溫度漸變;

*帶電設(shè)備試驗方法:Ae溫度漸變。

*沒有特別說明加負載的試驗樣品，試驗采用低溫試驗方法Ab溫度漸變;

*中間檢測:一般不允許在測試過程中把樣品拿出試驗箱外進行功能測試。功能測試應(yīng)讓樣品保持在皓天設(shè)備環(huán)境試驗箱里。

*恢復(fù):zui少一個小時，zui長不超過兩個小時。所有的功能測試必須在兩個小時內(nèi)完成。

*也可以設(shè)置溫度漸變的方法把試驗箱里的溫度組緩慢的恢復(fù)到室溫后再取出樣品，避免樣品產(chǎn)生凝露。

*參考標準:I EC60068-2-1;G BIT 2423.1